Сканирующая электронная микроскопия

Куратор:

Людмила Александровна Карцева

Адрес и координаты для связи:

197376, Санкт-Петербург, ул. Профессора Попова, д. 2
Телефон: +7 (812) 372-54-22 доб. 2265
Электронная почта: LKartseva@binran.ru

Расположение:

Корпус №14, 1-й этаж, сканирующая электронная микроскопия

С использованием сканирующего электронного микроскопа Jeol JSM 6390LA проводятся работы по изучению поверхностного строения растений и грибов

Производитель: JEOL Ltd. (Япония). Год выпуска – 2007.

В России продукцию JEOL 50 лет представляет фирма Tokyo Boeki, которая обеспечивает не только продажу приборов, но и их сервис, а также поставку запчастей.

Современный сканирующий (растровый) электронный микроскоп с полностью автоматизированной системой электронной высококачественной оптики для изучения поверхности и анализа элементного состава широкого спектра образцов.

Эвцентрический столик образца имеет минимальный сдвиг поля зрения, а также фокуса при вращении образца. Держатель предназначен для наблюдения особенностей поверхности, в том числе, под разными углами. Камера и столик для изучения больших образцов (до 150мм диаметром). Интуитивно понятный интерфейс. Многопользовательская система.

Спектрометр с дисперсией по энергиям, по длинам волн и детектор картин дифракции отраженных электронов расширяют возможности микроскопа до аналитических. С помощью аналитических приставок возможно получение информации о морфологии поверхности и составе образца на субмикронном уровне, получать распределения элементов.

Технические параметры

Характеристика	Значение
Разрешение в режиме высокого вакуума	3 нм при 30 кВ,8нм при 3кВ, 15нм при 1кВ
Разрешение в режиме низкого вакуума	4 нм при 30 кВ
Ускоряющее напряжение	от 0,5 до 30 кВ
Диапазон увеличений	от х8 до х300 000 при >11кВ от х5 до х300 000 при <10кВ
Виды контраста	вторичные электроны: топографический контраст отражённые электроны: композиционный, топографический, теневой контрасты.
Тип катода	вольфрамовый (W)
Конденсорная линза	с переменным фокусным расстоянием
Объективная линза	суперконического типа
Диафрагма объективной линзы	три ступени, с подстройкой по координатам Х и Y
Столик образцов	большой, эвцентрического типа, диапазон перемещений: по координатам: Х - 80 мм, Y - 40 мм, Z - от 5 до 48 мм. наклон: от -10 до +90 градусов, вращение 360 градусов
Моторизация перемещения столика	до 5 осей с компьютерным управлением (опция)